光學粗糙度儀的產品優(yōu)勢
日期：2024-08-25 03:42
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摘要：
光學粗糙度儀是一種測量表面粗糙度和預測紙張可印刷性的儀器。與傳統(tǒng)的光學表面粗糙度測量方法相比，它速度更快、質量更好、成本更低。該方法由Innventia開發(fā)，十多年來已被證明是評估紙張表面和打印缺陷之間相關性的一種出色測試方法。
優(yōu)勢：
快速光學方法——幾秒鐘內即可生成測試報告
可印刷性綜合預測
低成本測量設備
廣泛的測量范圍
高分辨率CMOS攝像機
易于安裝和啟動
符合人體工程學，自動化，操作簡單
采用觸摸屏和用戶友好界面
輪廓測量配有帶材給料機
